標準型 UV / VIS 光譜儀 V-770 | JASCO

  • V-770 採用獨特的單光器設計,可實現最大光通量和出色的光度線性。PMT 檢知器用於紫外光到可見光區,PbS 檢知器用於近紅外光區域至 2700 nm。

貨號: S2201-770 分類: 品牌:

描述

特點
  • IQ Accessory 和 IQ Start:IQ Accessory 可自動識別安裝之附件,讓光譜數據可以記錄儀器及附件之資訊,同時可自動載入特定之最佳化儀器參數以實現樣品測量。IQ Start 可透過儀器上的按鈕,快速開始樣品測量。

  • 紫外光到近紅外光的測量範圍:V-770 測量波長範圍為 190 到 2700 nm(可選 3200 nm)。特殊的單光器設計提供更高的光通量,即使光譜帶寬很寬,也具有良好的靈敏度。

  • 各式測量附件:提供各種微量樣品的液槽、液槽與固體樣品測量附件。

  • 也可選購高階測量附件,例如積分球、自動和手動超薄反射裝置,進行各種材料科學的透射、反射分析及產業規範所需之顏色、霧度、紫外光遮蔽等測量。

  • 符合規範的驗證證書,符合包含 USP、EP 和 JP 之 IQ/OQ 儀器認證。

  • 單分光器及雙分光器光束設計

  • 光電倍增管檢知器及 PbS 檢知器

規格表
項目 V-730 V-750 V-760 V-770 V-780
波長範圍 190 到 1100 nm 190 到 900 nm 187 到 900 nm 190 到 2700 nm(可選購至 3200 nm) 190 到 1600 nm
波長準確度 ±0.2 nm(at 656.1 nm) ±0.1 nm(at 656.1 nm) ±0.1 nm(at 656.1 nm) ±0.3 nm(at 656.1 nm)±1.5 nm(at 1312.2 nm) ±0.3 nm(at 656.1 nm)±1.0 nm(at 1312.2 nm)
波長再現性 ±0.1 nm ±0.05 nm ±0.1 nm ±0.05 nm(UV-Vis)±0.2 nm(NIR) ±0.05 nm(UV-Vis)±0.1 nm(NIR)
光譜帶寬(SBW) 1 nm 0.1, 0.2, 0.5, 1, 2, 5, 10 nmL2, L5, L10 nm(低迷光模式)M1, M2 nm(微量液槽模式) 同 V-750 UV-Visible: 0.1, 0.2, 0.5, 1, 2, 5, 10 nmL2, L5, L10 nm(低迷光模式)M1, M2 nm(微量液槽模式)NIR: 0.4, 0.8, 1, 2, 4, 8, 20, 40 nmL8, L20, L40 nm(低迷光模式)M4, M8 nm(微量液槽模式) 同 V-770
迷光率(198 nm KCL 12 g/L) 1 % 1 % 1 % 1 % 1 %
迷光率(220 nm NaI) 0.02 % 0.005 % 0.00008 % 0.005 % 0.005 %
迷光率(340 nm NaNO2) 0.02 % 0.005 % 0.00008 % 0.005 % 0.005 %
迷光率(370 nm NaNO2) 0.02 % 0.005 % 0.00008 % 0.005 % 0.005 %
迷光率(1420 nm H2O) 0.04 % 0.04 %
迷光率(1690 nm CH2Br2) 0.1 %
光度範圍 −3~3 Abs −4~4 Abs −4~6 Abs 紫外-可見光區:−4~4 Abs近紅外區:−3~3 Abs 同 V-770
吸光值準確度 ±0.0015 Abs(0–0.5 Abs)±0.0025 Abs(0.5–1 Abs)±0.3 %T Tested 同 V-730 同 V-730 ±0.0015 Abs(0–0.5 Abs)±0.0025 Abs(0.5–1 Abs)±0.3 %T Tested 同 V-770
掃描速度 10–8000 nm/min 同 V-730 同 V-730 10–4000 nm/min 10–4000 nm/min
RMS 雜訊等級 0.00004 Abs 0.00003 Abs
基線穩定度 0.0004 Abs/hour 0.0003 Abs/hour 0.0004 Abs/hour
基線平坦度 ±0.0005 Abs ±0.0002 Abs ±0.0003 Abs ±0.0002 Abs
檢知器 矽光電二極體 光電倍增管(PMT) 光電倍增管(PMT) PbS InGaAs 光電二極體檢知器
積分球及穩壓反射裝置

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